1.设备简介：

JEM-ARM300F是日本电子高端球差校正透射电镜,实现了世界最高扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率，配备了JEOL自主研发的球差校正器，最高加速电压可达300kV，是一款原子级分辨率电子显微镜。其主要特点：独特的高稳定性冷场发射技术；12极子球差校正器；可轻松实现原子级分辨率；高精度控制的样品台；专利的ABF探测器，轻元素表征能力最突出；全自动球差校正器操作软件；超级能谱分析系统。

2.设备功能

JEM-ARM300F标配日本电子的12极球差校正器、高亮度冷场发射电子枪，TEM的保证分辨率为0.06nm, STEM HAADF的保证分辨率为0.063nm。

3.主要技术参数

STEM HAADF分辨率	0.063nm@300kV；0.110nm@80kV；0.272nm@40 kV
极靴	超大极靴型WGP（间距6mm）
TEM分辨率	0.06nm@300kV； 0.1nm@80kV；0.22nm@40 kV
TEM晶格分辨率	≤0.06nm @ 300kV FFT Spot
电子枪	冷场
电子枪真空度	10-9Pa
样品室真空度	10-5Pa
衍射角 (2a)	1.5 to 100 mrad or more
取出角	±10°
放大倍数	MAG ：´2,000 to ´1.200,000 LOWMAG ：´60 to ´40,000 SAMAG ：´8,000 to ´600,000
选区衍射	8 to 200 cm
CMOS相机	Gatan Oneview

4.附件

（1）EDS:高灵敏无窗SDD双探头；探测面积≥100mm²*2　　

（2）Gatan公司一体化CMOS相机及成像系统（OneView）

（3）Hysitron PI95

（4）Gatan公司EELS（分辨率：0.1eV at zero loss）

5.联系方式

设备存放地点：机材楼C101

联系人：孟爽

电 话：15527063609

邮箱：2014911590@qq.com