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形状测量激光显微系统

设备名称

形状测量激光显微系统

厂家型号

KEYENCEVK-X3000

主要功能

仪器可以实现材料表面形貌的观察,平面或三维测量。可以采用3D观测模式对被测物形状,粗糙度,表面积等进行测量,可以做高度,宽度,横截面,角度,R值,表面积,体积,线粗糙度,面粗糙度等的测量分析。同时可以做材料断口、金相的观测,陶瓷,微流道,微加工,现代加工制造,MEMS研究,微纳制造等。

主要参数

1.光源:设备采用661nm激光器,符合GB7247.1标准,为安全二类激光,激光输出功率0.9mW

2.可检测陡峭斜面 87.1°

3.成像部分:

1)激光成像部分:采用 16bit 光电倍增管接收光学信号;

2)真彩色成像部分:560 万物理像素超高精细CMOS摄像单元;

放大倍率:综合倍率范围40x~28800x,视野范围11~7398um

4.分辨率:设备XY方向显示分辨率1nmXY方向测量重复精度50nm,设备可支持拓展原厂白光干涉模块具备Z方向显示分辨率0.01nm,设备Z方向测量重复精度20nm,测量准确度和重复性带有可追溯体系;

5.图像扫描:设备具有具备面扫描和线扫描两种扫描方式,面扫描速度 125Hz线扫描速度7900Hz

设备图片

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